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X 射線熒光測量儀 XDLM ® 237

X 射線熒光測量儀 XDLM ® 237

更新日期：2024-05-14

訪問量：564

廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商

生產(chǎn)地址：

簡要描述：
X 射線熒光測量儀 XDLM ® 237
FISCHERSCOPE ® X 射線 XDLM 237 ®
比例計數(shù)器（PC）型熒光X射線膜厚測量儀。配備 4 種準(zhǔn)直器和 3 種初級濾光片，它是一種高度通用的型號，也適用于電子元件和半導(dǎo)體行業(yè)的功能性多層膜測量。

X 射線熒光測量儀 XDLM ® 237

X 射線熒光測量儀 XDLM ® 237

日本進口fischerX 射線熒光測量儀 XDLM ® 237

特征

  • 微型聚焦管安裝在 X 射線管上，以較小的測量點進行分析。
  • 外殼有一個狹窄的開口（C 槽），可以測量大的板狀樣品。
  • 配備 4 種準(zhǔn)直器和 3 種初級濾光片的多功能型號

主要規(guī)格

從上往下看，是輻照式熒光X射線膜厚測量和材料分析儀。可編程 XY 平臺還允許自動連續(xù)測量。

模型第 237 章
測量元件范圍鈣 (20) -U (92)
X射線探測器比例計數(shù)器 (PC)
X射線管微調(diào)焦管
初級過濾器3種
準(zhǔn)直器數(shù)量/尺寸4種 / 0.05 x 0.05mm ~ Φ0.2mm
車身尺寸570 x 760 x 650mm（寬 x 深 x 高）
能量消耗高達 120W

主要應(yīng)用

  • 連接器和接觸部件的薄膜厚度測量
  • 電子元件/半導(dǎo)體行業(yè)中的功能性多層膜測量
  • 印刷電路板行業(yè)中的Au、Pd、Ni薄膜測量

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