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X射線熒光測量儀 XDV ® -SDD

X射線熒光測量儀 XDV ® -SDD

更新日期：2024-05-14

訪問量：751

廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商

生產(chǎn)地址：

簡要描述：
X射線熒光測量儀 XDV ® -SDD
FISCHERSCOPE ® X 射線 XDV ® -SDD
使用硅漂移探測器（SDD）作為X射線探測器的高性能熒光X射線膜厚測量儀。使用電動載物臺，可以測量非常薄的薄膜并進(jìn)行顯微分析。

X射線熒光測量儀 XDV ® -SDD

X射線熒光測量儀 XDV ® -SDD

日本進(jìn)口fischerX射線熒光測量儀 XDV ® -SDD

特征

  • X射線探測器采用硅漂移探測器（SDD）
  • 配備可編程 XY 平臺
  • 大且易于進(jìn)入的測量室（密閉室型）

主要規(guī)格

使用電動載物臺，可以對極薄的薄膜進(jìn)行自動測量和微量分析。

模型XDV-SDD
測量元件范圍鋁 (13) -U (92)
X射線探測器硅漂移探測器 (SDD)
X射線管微調(diào)焦管
初級過濾器6種
準(zhǔn)直器數(shù)量/尺寸4種/Φ0.1mm～Φ3mm
車身尺寸660 x 835 x 720mm（寬 x 深 x 高）
能量消耗高達(dá) 120W

主要應(yīng)用

  • 超薄膜和多層膜的檢測（電子/半導(dǎo)體行業(yè)等）
  • 篩選分析（RoHS、玩具、包裝標(biāo)準(zhǔn)有毒物質(zhì)檢測等）
  • NiP成分分析、厚度測量

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